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          國產X射線測厚儀Thick600

          產品型號:  Thick600

          產品時間:  2018-09-30

          所  在  地:  深圳市寶安區福永鎮鳳凰第一工業區

          產品特點:  國產X射線測厚儀Thick600是快速、無損、精確測試電鍍層厚度的儀器,改革開放以后,電鍍工業也進入快速發展時期,大批境外廠家進入中國長三角、珠三角、渤海灣等地區。

          (聯系我們,請說明是在 深圳市藝慈儀器有限公司 上看到的信息,謝謝?。?/h5>

          產品概述

          國產X射線測厚儀Thick600基本參數

           

          x射線層測厚儀針對不規則樣品進行高度激光定位測試點分析;
          軟件可分析5層25種元素鍍層;
          通過軟件操作樣品移動平臺,實現不同測試點的測試需求;
          配置高分辨率Si-PIN半導體探測器,實現對多鍍層樣品的精準分析;
          內置高清晰攝像頭,方便用戶觀測樣品狀態;
          高度激光敏感性傳感器保護測試窗口不被樣品撞擊。
          外觀尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm 
          樣品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm 
          樣品臺尺寸:230(W)×210(D)mm
          移動范圍:50(X)mm, 50(Y)mm
          Z軸升降平臺升降范圍:0-140mm

           

          國產X射線測厚儀Thick600產品優勢

           

          x射線測厚儀樣品處理方法簡單或無前處理
          可快速對樣品做定性分析
          對樣品可做半定量或準定量分析
          譜線峰背比高,分析靈敏度高
          不破壞試樣,無損分析
          試樣形態多樣化(固體、液體、粉末等)
          設備可靠、維修、維護簡單
          便捷、低廉的售后服務保證
          快速:一般測量一個樣品只需要1~3分鐘,樣品可不處理或進行簡單處理。
          無損:物理測量,不改變樣品性質
          準確:對樣品可以精確分析
          直觀:直觀的分析譜圖,元素分布一幕了然,定性分析速度快
          環保:檢測過程中不產生任何廢氣、廢水

           

          技術指標

           

          分析元素范圍:硫(S)~鈾(U) 

          同時檢測元素:*多24個元素,多達5層鍍層

          分析含量:一般為2ppm到99.9% 

          鍍層厚度:一般在50μm以內(每種材料有所不同)

          SDD探測器:分辨率低至135eV

          先進的微孔準直技術:*小孔徑達0.1mm,*小光斑達0.1mm

          樣品觀察:配備全景和局部兩個工業高清攝像頭 

          準直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與Ф0.3mm四種準直器組合 

          儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm

          樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm

          樣品臺尺寸:393(W)x 258 (D)mm

          X/Y/Z平臺移動速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s

          X/Y/Z平臺重復定位精度:小于0.1um

          操作環境濕度:≤90%

          操作環境溫度:15℃~30℃ 
           

          性能優勢 

           

          1.精密的三維移動平臺 

          2.的樣品觀測系統 

          3.先進的圖像識別 

          4.輕松實現深槽樣品的檢測 

          5.四種微孔聚焦準直器,自動切換 

          6.雙重保護措施,實現無縫防撞 

          7.采用大面積高分辨率探測器,有效降低檢出限,提高測試精度 

          全自動智能控制方式,一鍵式操作!

          開機自動自檢、復位; 

          開蓋自動退出樣品臺,升起Z軸測試平臺,方便放樣; 

          關蓋推進樣品臺,下降Z軸測試平臺并自動完成對焦; 

          直接點擊全景或局部景圖像選取測試點; 

          點擊軟件界面測試按鈕,自動完成測試并顯示結果。 

           

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